細磨及超細磨下的功耗規(guī)律

　　細磨及超細磨(磨礦粒度200-400目)及超細磨(磨礦粒度400目以下)是七十年代以后出現(xiàn)的，工業(yè)中急需解決細磨和超細磨下功耗的計算問題。細磨和超細磨下，由于粒度變細礦粒機械強度增大，礦石變得很難磨，以及細磨及超細磨下過程控制差，能量轉(zhuǎn)換效率低，所以細磨和超細磨下功耗急劇增大。

　　以功耗學說目前的研究深度，應用大致有以下三方面：

　　(1)計算磨機功耗。幾個功耗學中，只有邦德的功耗原式是可以用于直接計算磨礦功耗的，因為邦德功耗原式中，給料粒度及產(chǎn)品粒度是可以篩析測定的，而邦德功指數(shù)，可以按邦德規(guī)定的辦法進行測定，故磨礦所需的功耗是可以直接計算出來的。

　　(2)已知標準礦石的功指數(shù)，可以用磨礦試驗測定待測礦石的功指數(shù)。在相同條件下，用同一磨機分別磨細同樣重量的標準礦石和待測礦石，從它們的給礦和產(chǎn)品的篩分析曲線中找出。

　　用同一磨機在同樣條件下磨細同樣質(zhì)量的兩種礦石所耗的功應當相等。

　　(3)用面積學說推測不同破碎比下的功耗。在同一磨機種，隨著磨碎時間延長，破碎比增大，功耗增大。

　　隨著對功耗規(guī)律的研究深入，現(xiàn)有的功耗學說還可以找到新的用途。